ORTEC提供各种耗尽厚度的硅面垒型探测器,可满足众多研究应用的需求。
*所有分辨率测量均在21±1°C下执行和保证。
**用5.486-MeV天然α粒子测量。
A 系列 | B 系列 | |
主要应用 | 高分辨率带电粒子光谱测量(核物理与放射化学 ,空间物理学) | 粒子识别、望远镜探测器(核物理与放射化学,空间物理学) |
探测器类型 | 部分耗尽的硅面垒 | 全耗尽的硅面垒 |
初始材料 | Si | Si |
有效面积范围 (mm2) | 25-450 | 50-450 |
有效厚度范围 (µm) | 1000-2000 | 150-2000 |
保证工作温度范围* | +25°C 至 | +25°C 至 |
二极管结构 | 金 - N型硅铝部分耗尽 | 金 - N型硅铝全耗尽 |
标称等效** 窗口的截止能量 | 入口 | 入口 |
C 系列 | D 系列 | |
主要应用 | 从准直光源或光束的反向散射 - 角度相关测量(核物理) | 重离子的飞行时间测量(核物理) |
探测器类型 | 环形部分耗尽的硅面垒 | 平面全耗尽的硅面垒 |
初始材料 | Si | Si |
有效面积范围 (mm2) | 50-450 | 10-450 |
有效厚度范围 (µm) | 100-1000 | 15-100 |
保证工作温度范围* | 25°C 至 | 10°C 至 |
二极管结构 | 金 - N型硅铝部分耗尽 | 金 - N型硅铝全耗尽平面 |
标称等效** 窗口的截止能量 | 入口 | 入口 |
F 系列 | R 系列 | |
主要应用 | 重离子谱测量(核物理学) | 可在空气和环境光下进行的带电粒子谱测量 |
探测器类型 | 部分耗尽的硅面垒 | 加固型部分耗尽硅 |
初始材料 | Si | Si |
有效面积范围 (mm2) | 100-900 | 50-2000 |
有效厚度范围 (µm) | ≥60 | 100-500 |
保证工作温度范围* | +25°C 至 | +25°C 至 |
二极管结构 | 金 - N型硅铝部分耗尽高场强 | 铝 - P型硅金部分耗尽 |
标称等效** 窗口的截止能量 | 入口 | 入口 |